Chroma 19036為繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 結(jié)合了耐壓測(cè)試 (AC/DC)、絕緣電阻測(cè)量 (IR)、 直流電阻測(cè)量 (DCR) 與脈沖測(cè)試( IWT) 于一臺(tái)單 機(jī)，擁有耐壓測(cè)試最高AC 5kV/DC 6kV、絕緣 電阻測(cè)量最高DC 5kV、四線式直流電阻測(cè)量范 圍2mΩ~2MΩ與脈沖測(cè)試最高DC 6kV，且擁有 10通道可執(zhí)行一次多個(gè)待測(cè)物的掃描測(cè)試，搭配 外接通道掃描盒最多可達(dá)到40通道的多組掃描測(cè) 試，能節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本，并大幅提升生 產(chǎn)效率。

19036可針對(duì)馬達(dá)、變壓器、電感等繞線元件產(chǎn) 品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試，讓繞線元件的生產(chǎn)制造商及使 用者在產(chǎn)品檢驗(yàn)時(shí)，能更有效率地為產(chǎn)品質(zhì)量把關(guān)。 線圈會(huì)發(fā)生絕緣不良通常是因?yàn)槌跏荚O(shè)計(jì)不良、 加工制程不良或是絕緣材料劣化等導(dǎo)致線圈發(fā) 生圈與圈之間的層間短路、線圈與磁芯的絕緣不 良或是線圈與接腳短路。在產(chǎn)品制造的測(cè)試項(xiàng)目 中加入脈沖測(cè)試可對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行多種缺陷的分析測(cè) 量，進(jìn)而提升繞線元件產(chǎn)品的生產(chǎn)質(zhì)量。 脈沖測(cè)試擁有面積比較、面積差比較、顫動(dòng)量偵 測(cè)、二次微分、波峰差比、諧振面積比與頻率差 比的判定，可針對(duì)線圈的層間絕緣不良、質(zhì)量不 良及感量差異進(jìn)行有效的檢測(cè)與分析。

19036具備四線式直流電阻測(cè)量技術(shù)，每通道含 有Drive與Sense的接口，單機(jī)可提供10通道的 四線式直流電阻測(cè)量；直流電阻測(cè)量也具備溫度 補(bǔ)償功能，可配合溫度探棒對(duì)待測(cè)物或環(huán)境溫度 進(jìn)行測(cè)量后，進(jìn)行溫度補(bǔ)償?shù)淖柚涤?jì)算。 19036擁有高速接觸檢查 (HSCC) 及開路檢查 (OSC) 的功能，在執(zhí)行測(cè)試前快速地為每個(gè)通道 檢查待測(cè)物的接觸/連接是否良好以及待測(cè)物是 否有開路或短路的問題，可解決因待測(cè)物接觸不 良而導(dǎo)致測(cè)試失敗或無效測(cè)試的問題。

19036的耐壓測(cè)試具有500VA的輸出功率設(shè)計(jì)， 符合IEC/UL對(duì)輸出功率的要求 (如馬達(dá)的安規(guī)測(cè) 試標(biāo)準(zhǔn)UL1004-1、GB14711)，可輸出及測(cè)量電 流AC最大120mA (<4kV)/DC最大20mA，滿足 漏電流較大或大型設(shè)備的電氣安規(guī)測(cè)試需求。

特點(diǎn)

■五合一安規(guī)掃描分析儀 (交流耐壓、直流 耐壓、絕緣電阻、直流電阻、脈沖測(cè)試)

■耐壓測(cè)試 (Hi-pot)- 交流最大AC 5kV / 直流最大DC 6kV- 高頻接觸檢查 (HFCC)

■絕緣電阻測(cè)量 (IR)- 最大 5kV

■直流電阻測(cè)量 (DCR)- 直流電阻平衡功能 (DCR Balance)

■脈沖測(cè)試 (IWT)- 波形取樣率 (200MHz)- 崩潰電壓分析模式的2種判定 ·面積比較 (Area) ·二次微分 (Laplacian)- 測(cè)試模式的7種判定 ·面積比較 (Area) ·面積差比較 (Differential Area) ·顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter) ·二次微分 (Laplacian) ·波峰差比 (Peak%) ·諧振面積比 (Resonant Area) ·頻率差比 ( fr%)

■Δ/Y型直流電阻 (/Y DCR)

■脈沖測(cè)試比較 (IWT CMP)

■高速接觸檢查 (HSCC)

■開路檢查 (OSC)

■支援3302/3252感量、Q值量測(cè) (選購)- 電感 (Lx)- 電感平衡 (Lx Balance) ■人體接地保護(hù)功能 (GFI)

■支援最多40通道掃描測(cè)試

■USB資料儲(chǔ)存及畫面擷取功能

■標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232界面

■操作界面( 英文、繁中、簡(jiǎn)中)